MCU的测试方法。 所谓中测即是WAFER的测试，它会包含产品的功能验证及AC、DC的测试。项目相当繁多，以HOLTEK产品为例最主要的几项如下：1. 接续性测试：检测每一根I/OPIN内接的保护用二极管是否功能无误；2. 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(TEST PATTERN)灌入IC，检查其结果是否与当时SIMULATIO... 2023-06-13 MCU耗电测试IO引脚频率特性文章单片机基础知识
