嵌入式存储器的测试及可测性设计研究 引言近年来，消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC（系统级芯片）产品集成水平的提高，并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战，最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续... 2023-06-13 嵌入式存储器测试可测性设计文章课设毕设测量类
