基于FPGA的SRAM自测试研究

1故障模型所谓故障模型，是指为了研究故障对电路或系统的影响，诊断(定位)故障的位置，对故障作一些分类并选择最典型故障的过程。SRAM系统可抽象为一组互联的功能模块,故障在各个模块均可发生。Van de Goor等人[3]将其简化为地址译码器、读写逻辑、存储器单元阵列3部分,并证明...

2023-06-13 SRAMMarchCFPGA文章单片机